Подход к самодиагностированию неоднородных цифровых систем

Представлен подход к самодиагностированию (СД) компонентов (устройств и линий связи) неоднородных цифровых систем, построенных с использованием равного числа устройств двух типов (процессор, память). Для проведения процессов контроля и СД связанные разнотипные устройства объединяются в подсистемы. Функции проверяющего модуля при тестировании сформированных подсистем исполняет устройство активного типа (например, процессор). Допускаются устойчивые кратные отказы ограниченного числа компонентов, причем во время СД новые отказы не возникают. Для описания результатов тестирования проверяемых подсистем используется модель Барси–Грандони–Маестрини. Предполагается, что в неоднородной системе есть диагностический монитор, который инициирует процессы контроля и СД. Дан пример контроля и СД компонентов неоднородной 14-модульной системы.