Вероятностный метод расчета полупроводниковых логических элементов

Рассматривается методика расчета параметров полупроводникового логического элемента «или-не», исходя из требования обеспечения заданной надежности работы при учете вероятностного распределения разброса величин сопротивлений и изменений параметров триода, вызванных старением.