Аннотация:
В статье рассматриваются вопросы локализации неисправностей в цифровых схемах с использованием одного из популярных в настоящее время подхода к контролю работоспособности современных БИС и СБИС, основанного на контроле значений токов, протекающих в них в статических режимах (Iddq-тестирование). Обсуждаются способы построения диагностических тестов для стандартных модулей, предлагаются алгоритмы диагностирования.
УДК:
681.3
Статья представлена к публикации членом редколлегии:П. П. Пархоменко