Оптимизация параллельно-последовательного процесса самотестирования дискретных устройств

Оптимизируется параллельно-последовательный процесс самотестирования по критерию наименьших затрат времени и аппаратурных средств. В этой связи представлена процедура формирования внутри кристалла генератора тестов на базе штатной и минимуме привнесенной аппаратуры. Показано, как оптимизировать режим работы генератора, чтобы его “выгодно” было использовать для тестирования как больших, так и малых частей интегральной схемы.

Статья представлена к публикации членом редколлегии: П. П. Пархоменко