Неразрушающее тестирование ОЗУ на основе анализа симметрии выходных данных

Для неразрушающего маршевого тестирования памяти, основанного на анализе симметрии считываемых потоков выходных данных, рассматриваютсяусловия проявления константных, переходных неисправностей и неисправностей взаимного влияния. Исследуется задача построения алгоритмов, обеспечивающих 100%-ное покрытие указанных неисправностей при минимальной сложности теста и его аппаратной реализации.

Статья представлена к публикации членом редколлегии: П. П. Пархоменко