Генерация исчерпывающего теста для автоматов с конечной памятью. I

Рассматриваются структурные автоматы с конечной памятью (АКП), частным случаем которых являются $B$-схемы. Для АКП и $B$-схемы определено понятие исчерпывающего теста (ИТ). В части I работы для $B$-схемы с $n$ входами предложена структура генератора ее исчерпывающего теста (ГИТ), обеспечивающего ИТ длиной, близкой к $2^n$. В части II ГИТ построен для АКП общего вида.