RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Автоматика и телемеханика // Архив

Автомат. и телемех., 1998, выпуск 10, страницы 147–159 (Mi at2810)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Техническая диагностика

Функциональное тестирование RISC-микропроцессоров

А. В. Кошевенко, С. Г. Шаршунов

Дальневосточный государственный технический университет, Владивосток

Аннотация: Рассмотрена концепция функционального тестирования микропроцессора, основанная на функциональной декомпозиции модели и ориентированная на особенности RISC-архитектуры. Представлены концептуальные модели RISC-микропроцессора как объекта тестирования в формах блок-схемы и обобщенного графа регистровых передач. Определены пути и этапы тестирования, рассмотрены процедуры синтеза тестов для основных механизмов и функциональных модулей микропроцессора; особое внимание уделено проверке механизмов управления обработкой и передачей данных. Эффективность процедур тестирования свидетельствует о высокой тестопригодности RISC-архитектуры.

УДК: 681.325


Поступила в редакцию: 29.05.1997


 Англоязычная версия: Automation and Remote Control, 1998, 59:10, 1469–1477

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024