RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Автоматика и телемеханика // Архив

Автомат. и телемех., 1993, выпуск 2, страницы 3–28 (Mi at2890)

Обзоры

Высоконадежные оперативные запоминающие устройства, тенденции развития

Г. В. Буханова

Институт проблем управления РАН, Москва

Аннотация: Дается обзор современных высоконадежных оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) на микросхемах памяти и тенденций их развития. Рассматриваются методы повышения надежности ОЗУ на микросхемах памяти, основанные на введении структурной, информационной и временной избыточности. Приводятся примеры реализаций ОЗУ в отказоустойчивых системах.

УДК: 681.327.26(047)


Поступила в редакцию: 17.04.1992



© МИАН, 2024