Оперативное запоминающее устройство с высокими надежностными характеристиками. II

Исследованы структурные особенности аппаратуры ОЗУ, позволяющие сделать процесс надежностной деградации управляемым. Представлены надежностные модели ОЗУ для оценки коэффициента готовности и времени наработки на отказ. Показано, что предлагаемая структура ОЗУ имеет существенно лучшие надежностные показатели по сравнению с известными. Предложена модификация традиционной надежностной модели ОЗУ.