Функциональные модели неисправностей аналоговых элементов

Введены модели неисправностей для аналоговых элементов, описанных функциональными моделями. Сформулированы условия проявления функциональных неисправностей по выходу элемента. При этом учитывается наличие полей рассеивания у аналоговых сигналов. Выполненные исследования показали возможность применения только функции исправного элемента при подборе тестовых воздействий, обеспечивающих проявление его неисправностей. Полученные результаты могут быть использованы при решении задач построения тестов для устройств, содержащих аналоговые интегральные схемы.