Аннотация:
Рассмотрена концепция активной диагностики при обнаружении и регистрации сбоев в аппаратуре: вычислительной технике, датчиках, исполнительных механизмах, оптико-электронных комплексах. Предложена совокупность информативных признаков для обнаружения и регистрации источников сбоев: соединителей, контактирующих узлов больших интегральных схем (БИС) и сверхбольших интегральных схем (СБИС), контактных проводников печатных плат (включая многослойные), интерфейсных шин, неэкранированных одно- и многожильных проводов, шин заземления и электропитания, клеммных колодок, мест паек. На основе обнаруженных новых свойств пассивных элементов радиоэлектронной аппаратуры и по аналогии с понятием “безотказность” предложено новое понятие надёжности – “бессбойность”, устанавливающее связь между сбоями в аппаратуре и скрытыми дефектами в ней.
Статья представлена к публикации членом редколлегии:П. П. Пархоменко