Метод параллельно-последовательного самотестирования СБИС на основе их декомпозиции

Излагается метод организации самотестирования СБИС. Встроенная в СБИС аппаратура самотестирования обеспечивает: диагностическую декомпозицию структуры СБИС на совокупность подсхем с управляемыми и наблюдаемыми элементами памяти, последовательно-параллельную проверку подсхем, межподсхемных соединений и выводов СБИС, генерацию исчерпывающего (тривиального) теста подсхем, сжатие выходных реакций проверяемых подсхем во времени и в пространстве (получение сигнатуры СБИС), сравнение действительной и эталонной сигнатур.