В. П. Чипулис, “Построение тестов микропроцессоров. III. Проверка адресации. Проверка реакции на внутреннее состояние и переходов”, Автомат. и телемех., 1987, выпуск 3,страницы 153

Техническая диагностика

Построение тестов микропроцессоров. III. Проверка адресации. Проверка реакции на внутреннее состояние и переходов

В. П. Чипулис

Владивосток

Аннотация: Исследуется задача построения тестов для проверки микропроцессоров, управляющих последовательностями передач данных, на примерах механизмов адресации и реакции на внутреннее состояние и переходов.

УДК: 681.3.012:681.326.7

Поступила в редакцию: 28.01.1986