Л. А. Закревский, А. А. Иванюк, А. И. Янушкевич, В. Н. Ярмолик, “Неразрушающее тестирование элементов памяти при помощи встроенных средств контроля на четность”, Автомат. и телемех., 1999, выпуск 2,страницы 120

Эта публикация цитируется в 1 статье

Техническая диагностика

Неразрушающее тестирование элементов памяти при помощи встроенных средств контроля на четность

Л. А. Закревский, А. А. Иванюк, А. И. Янушкевич, В. Н. Ярмолик

Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск

Аннотация: Данная статья посвящена неразрушающему тестированию памяти с применением контроля на четность, позволяющему обнаруживать константные и переходные неисправности ячеек памяти заданной кратности. Исследуется задача генерации тестов, обеспечивающих 100% покрытие неисправностей указанного класса.

УДК: 681.3

Поступила в редакцию: 13.02.1997