К полной проверке программируемых логических матриц. I

Выделяется класс контролепригодных программируемых логических матриц, допускающих проверку всех одиночных неисправностей типа исчезновения и появления транзистора и всех кратных неисправностей, состоящих из этих одиночных, тестом, длина которого существенно меньше $2^m$, где $m$ - число входных полюсов ПЛМ.