Аннотация:
Предлагается метод преобразования произвольной ПЛМ к контролепригодному виду и метод построения для полученной ПЛМ полного теста, т. е. такого теста, который проверяет все одиночные неисправности типов исчезновения и появления транзистора и все кратные неисправности, состоящие из этих одиночных. Рассматриваются ПЛМ комбинационной логики и разновидность ПЛМ с памятью.