Определение множества подозреваемых неисправностей по данным моделирования исправного устройства

Рассматривается задача определения множества подозреваемых неисправностей дискретного устройства с использованием данных о структуре и результатов моделирования работы исправного устройства. Диагностируемое устройство может иметь одиночную или кратную логическую неисправность. Полученные результаты могут быть использованы в системах диагностирования с логическим зондом.