Структурно-лингвистический подход к псевдослучайному тестированию микропроцессорных устройств

Излагаются теоретические основы структурно-лингвистического подхода к псевдослучайному тестированию микропроцессорных устройств. Исследуются недостатки традиционных методов псевдослучайного тестирования данного класса устройств и показаны пути их преодоления, основанные на введении синтаксического управления процессами стохастической генерации тестовых программ. Рассматриваются методы синтеза стохастических грамматик тестовых программ, моделирования процессов функционирования программно-управляемых устройств и функциональных неисправностей, а также оценки достоверности функционального контроля микропроцессоров.