Аннотация:
Предложен логико-динамический (ЛД) подход к тестовому диагностированию синхронных КМОП БИС. В отличие от традиционного логического подхода, ориентированного на контроль схем в заведомо устойчивых состояниях и основанного на модели логической тождественной неисправности, предлагаемый подход ориентирован на проведение контроля на предельно допустимой частоте. Он основан на модели простейшей одиночной ЛД-неисправности, которая хорошо описывает проявления основных дефектов КМОП БИС и обобщает многие традиционные модели неисправностей. Разработан алгоритм построения тестов для комбинационных подсхем синхронных КМОП БИС. На основе развития концепции ЛД-контролепригодности намечены пути применения подхода для последовательных схем и КМОП БИС в целом.