Построение тестов для механизмов управления межрегистровым обменом данными в микропроцессорах

Рассматриваются механизмы управления межрегистровым обменом данными в микропроцессорах. Вводятся модели механизмов двух типов, а также модели их дефектов. Приводятся процедуры построения проверяющих тестов и обосновывается полнота получаемых тестов в классе введенных неисправностей. Рассматриваются примеры практического применения процедур к микропроцессорам серий К580 и К583.