Аннотация:
Предлагается подход к диагностированию дискретных устройств, основанный на использовании методов компактного тестирования и кодов, локализующих ошибки. Рассматриваются совокупности блоков устройства, искажения в выходных последовательностях которых взаимонезависимы. При определенном количестве блоков и кратности их неисправностей затраты памяти, требуемые при диагностировании данным методом, могут быть меньше, чем при использовании соответствующего метода компактного тестирования.