RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Автоматика и телемеханика // Архив

Автомат. и телемех., 2008, выпуск 8, страницы 139–152 (Mi at711)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Техническая диагностика

Тестовое диагностирование современных микропроцессоров с использованием функциональных моделей

В. В. Белкин

Дальневосточный государственный технический университет, Владивосток

Аннотация: Представлен новый подход к разработке функциональных диагностических тестов процессоров с параллелизмом уровня системы команд. Подход основан на функциональной декомпозиции архитектуры процессора и использовании функциональных моделей. Подход применен для разработки методики диагностирования механизмов хранения и передачи данных конвейеризованных процессоров. Разработаны модели и алгоритмы генерирования тестов этих механизмов. Качество диагностических тестов оценено на модели.

PACS: 07.05.Bx, 07.05.Tp

Статья представлена к публикации членом редколлегии: П. П. Пархоменко

Поступила в редакцию: 15.12.2006


 Англоязычная версия: Automation and Remote Control, 2008, 69:8, 1398–1410

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024