RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Автоматика и телемеханика // Архив

Автомат. и телемех., 2010, выпуск 4, страницы 169–180 (Mi at809)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Техническая диагностика

Анализ возможности локального диагностирования в вычислительных системах с циркулянтной структурой на основе использования избыточности в числе анализируемых исходов тестирования

Ю. К. Димитриев

Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, Новосибирск

Аннотация: Рассматривается локальное диагностирование при множественных неисправностях, когда состояние исправен/неисправен для каждого модуля системы идентифицируется только по результатам сопоставительного анализа исходов тестирования модулей, имеющих с диагностируемым модулем физические связи. Изучаются условия, при которых состояние можно определить не для всех модулей (тупиковое состояние системы). Найдены признаки тупикового состояния отдельных модулей и системы в целом, использование которых позволяет уменьшить трудоемкость анализа локальной диагностируемости системы. Для систем с циркулянтной диагностической структурой общего вида показана возможность сокращения числа тупиковых состояний при использовании избыточности по числу исходов тестирования, участвующих в сопоставительном анализе. Доказано, что для систем с оптимальной циркулянтной диагностической структурой такая избыточность составляет достаточное условие для исключения тупиковых состояний.

Статья представлена к публикации членом редколлегии: П. П. Пархоменко

Поступила в редакцию: 01.11.2008


 Англоязычная версия: Automation and Remote Control, 2010, 71:4, 697–707

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024