Разработка тестов для анализа контролепригодности СБИС на верхних уровнях проектирования

Анализируется состояние проблемы контроля сверхбольших интегральных схем (СБИС). Рассматриваются задачи направленного построения тестов контроля на системном уровне представления объекта или уровне межрегистровых передач (RTL) на языке VHDL. Класс функциональных неисправностей, рассматриваемых при направленном построении теста, соответствует неисправностям константного типа реализаций СБИС на элементах соответствующих библиотек проектирования. Предлагается метод направленного построения теста, который позволяет на ранних этапах проектирования анализировать зависимость контролепригодности от применяемых технологических библиотек проектирования.

Статья представлена к публикации членом редколлегии: П. П. Пархоменко