RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Автоматика и телемеханика // Архив

Автомат. и телемех., 2007, выпуск 1, страницы 163–174 (Mi at930)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Техническая диагностика

Метод параллельно-последовательного самотестирования в интегральных схемах типа $FPGA$

Г. П. Аксёнова, В. Ф. Халчев

Институт проблем управления им. В. А. Трапезникова РАН, Москва

Аннотация: Рассматривается применение метода параллельно-последовательного самотестирования (ППСТ) к микросхемам типа FPGA. Даны предложения по преобразованию FPGA к контролепригодному виду и оценены затраты на это преобразование. Проведено сравнение по затратам метода ППСТ с известными методами тестирования.

PACS: 01.40.gf

Статья представлена к публикации членом редколлегии: П. П. Пархоменко

Поступила в редакцию: 26.12.2005


 Англоязычная версия: Automation and Remote Control, 2007, 68:1, 149–159

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024