Аннотация:
Исследовано влияние подложки на критическое поведение ферромагнитной монослойной плёнки методом компьютерного моделирования. Подложка моделируется как двумерный периодический потенциал. В работе для подложки использовано двумерное обобщение потенциала Френкеля — Конторовой. Для моделирования ферромагнитной плёнки используется модель Изинга. Компьютерное моделирование осуществлено с помощью кластерного алгоритма Вольфа. Получена зависимость температуры Кюри и критических индексов от периода потенциала подложки при различных значениях амплитуды потенциала подложки.