А. В. Тюриков, Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев, Б. Л. Жуйков, С. И. Липанов, “Исследование влияния макроскопической формы перетравливаемой шейки заготовки СТМ-зонда на его нанотопологию”, ХФМ, 2015, том 17, выпуск 3,страницы 482

Эта публикация цитируется в 1 статье

Исследование влияния макроскопической формы перетравливаемой шейки заготовки СТМ-зонда на его нанотопологию

А. В. Тюриков, Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев, Б. Л. Жуйков, С. И. Липанов

Институт механики УрО РАН, 426067, г. Ижевск, ул. Т. Барамзиной, 34

Аннотация: Рассмотрены вопросы влияния макроскопической формы шейки заготовки СТМ-зонда на образование атомарных нановыступов на его конце при изготовлении зондов методом химического травления. Приведены результаты двухэтапного моделирования процесса разрыва шейки вольфрамовой заготовки методом динамики частиц при макроскопическом и атомном масштабах. Показано, что наиболее приемлемой для получения атомного разрешения нанотопологией острия обладают заготовки СТМ-зондов с более тонкой шейкой ассиметричной формы.

Ключевые слова: сканирующий туннельный микроскоп, вольфрамовая игла, зондирующее острие, метод динамики частиц, потенциал взаимодействия.

УДК: 21.385.833