RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Computational nanotechnology // Архив

Comp. nanotechnol., 2018, выпуск 4, страницы 9–16 (Mi cn207)

05.02.00. МАШИНОСТРОЕНИЕ
05.02.05 РОБОТЫ, МЕХАТРОНИКА И РОБОТОТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ

Multi-angle goniometric computer-assisted lab-on-a-chip reading system stage for vacuum-gas chambers based on analytical scanning electron microscopy platform (goniometric CLEM chambers)

[Компьютеризированная система для многоугловых измерений при считывании аналитических чипов на платформе корреляционной электронно-оптической микроскопии (CLEM) в контролируемых физико-химических условиях в колонне с вакуумированием и напуском газа (ESEM)]

O. V. Gradovab

a N. N. Semenov Institute of Chemical Physics, Russian Academy of Sciences, Moscow
b Institute of Energy Problems of Chemical Physics, Russian Academy of Sciences, Moscow

Аннотация: В данной работе описывается компьютеризированная система с многоосным гониометрическим столиком для многоугловых измерений при считывании аналитических чипов на платформе корреляционной электронно-оптической микроскопии (CLEM - Correlative Light-Electron Microscopy) при контролируемых физико-химических условиях измерений / контролируемой атмосфере в колонне TESLA с вакуумированием рабочего объёма и напуском газа (ESEM - Environmental Scanning Electron Microscopy). Предварительно аргументируется необходимость реализации многоугловой аналитики, причем как для оптических, так и для корпускулярных методов измерений на любой конструктивно-эквивалентной установке. Приводятся аргументы, свидетельствующие о возможности использования подобной геометрии установки не только для многоугловых измерений аналитических чипов (либо с использованием встроенных КМОП- или ПЗС-матриц - детекторов систем проекционной безлинзовой микроскопии на чипе в центральной зоне гониометрического стола в контакте с образцами, либо на месте детектора проходящих электронов TED), но и в исследованиях природных сред - в частности, минеральных структур и структур биоминерализации при различных физико-геохимических условиях их формирования и замещения, с различным текстурно-пространственным разрешением. Предложен принцип комплементарных координат, в которых фиксируемые дескрипторы, значения переменных, по которым производится идентификация объектов / их структурных компонент или компартментов, проецируются на согласованную с геометрией объекта (с соответствующим размерам его структурных компонент разбиением) сетку, а исследование распределения переменных происходит в нескольких системах координат, колокализованных друг с другом. В качестве кастомизированного для данной установки программного решения приводится репрезентация, использующая одновременно эйлеровы угловые координаты и кватернионы.

Ключевые слова: гониометры; корреляционная электронно-оптическая микроскопия; электронная микроскопия в контролируемой атмосфере; безлинзовая микроскопия; имэджинг на чипе; лаборатории на чипе; многоугловое лазерное рассеяние (MALLS); многоугловое рассеяние света (MALS).

Язык публикации: английский



© МИАН, 2024