RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Computational nanotechnology // Архив

Comp. nanotechnol., 2021, том 8, выпуск 2, страницы 87–93 (Mi cn340)

Эта публикация цитируется в 1 статье

ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ В ПРОИЗВОДСТВЕ И ПРОМЫШЛЕННОЙ ПРАКТИКЕ

Экспериментальное исследование метрологических параметров контроля качества

Э. Б. Искендерзаде, Г. С. Велиев, Ш. В. Ахмедли, У. Р. Исламова

Азербайджанский Технический Университет

Аннотация: В статье рассматривается рациональное использование всех видов ресурсов на предприятии; повышение качества управленческих решений; освоение инновационных технологий; повышение производительности труда; улучшение качества продукции; возможность непредсказуемой обработки и растраты продуктов с помощью моделей, построенных на использовании S-графиков, направленных на своевременное и качественное выполнение заказов. Оценка вероятных параметров модели системы метрологического обеспечения позволяет снизить затраты и время на управление процессами, снизить себестоимость продукции, а также эффективно распределить трудовые, материальные и финансовые ресурсы.

Ключевые слова: графические модели, координатная метрология, отклонения, показатели качества, система метрологического обеспечения, вероятностные параметры, алгоритм идентификации.

Поступила в редакцию: 18.05.2021

DOI: 10.33693/2313-223X-2021-8-2-87-93



© МИАН, 2024