RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Компьютерная оптика // Архив

Компьютерная оптика, 2016, том 40, выпуск 4, страницы 482–488 (Mi co242)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Разработка методов формирования и контроля заданного распределения толщины фоторезиста при изготовлении конформальных корректоров

В. П. Корольков, А. С. Конченко, В. В. Черкашин, Н. Г. Миронников

Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия

Аннотация: В работе обсуждаются проблемы изготовления и контроля качества конформальных корректоров для мощных твердотельных YAG:Nd3+ лазеров. Предложено использовать метод безмасочной проекционной фотолитографии как альтернативу фотолитографии с зазором на основе растрированных полутоновых шаблонов. Рассмотрено применение метода зеркальной спектроскопической рефлектометрии для контроля формы корректоров на стадии рельефа в фоторезисте. Совокупность использованных методов значительно повышает производительность изготовления корректоров в сочетании с удешевлением процесса.

Ключевые слова: зеркальная спектроскопическая рефлектометрия, безмасочная фотолитография, конформальные корректоры, измерение толщины тонких пленок, профилометрия.

Поступила в редакцию: 30.05.2016
Принята в печать: 16.08.2016

DOI: 10.18287/2412-6179-2016-40-4-482-488



© МИАН, 2024