RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Компьютерная оптика // Архив

Компьютерная оптика, 2017, том 41, выпуск 3, страницы 356–362 (Mi co393)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Субволновая фокусировка лазерного излучения с помощью зонной пластинки из хрома

А. Г. Налимовab, С. С. Стафеевab, Е. С. Козловаab, В. В. Котлярab, Л. О'Фаолейнc, М. В. Котлярb

a Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева, Самара, Россия
b Институт систем обработки изображений РАН - филиал ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Самара, Россия
c Школа физики и астрономии, Университет Сент-Эндрюса, Великобритания

Аннотация: Проведено исследование характеристик фокусного пятна, формируемого зонной пластинкой диаметром $15$ мкм из пленки хрома на стеклянной подложке и фокусным расстоянием в одну длину волны $\lambda = 532$ нм, в зависимости от высоты рельефа. Исследование показало, что высота рельефа $70$ нм позволяет достичь оптимального соотношения размеров фокусного пятна по полуспаду интенсивности и максимальной интенсивности. С использованием сканирующего ближнепольного оптического микроскопа показано, что зонная пластинка с указанными параметрами фокусирует линейно поляризованный Гауссов пучок в эллиптическое пятно с размерами по полуспаду интенсивности вдоль декартовых координат $\mathrm{FWHM}_x = 0,42\lambda$ и $\mathrm{FWHM}_y = 0,64\lambda$.

Ключевые слова: амплитудная зонная пластинка, фазовая зонная пластинка, острая фокусировка, FDTD-метод, сканирующий ближнепольный оптический микроскоп.

Поступила в редакцию: 05.05.2017
Принята в печать: 15.05.2017

DOI: 10.18287/2412-6179-2017-41-3-356-362



© МИАН, 2024