Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисах из элементов, имеющих не более двух входов

Рассматриваются схемы в базисах из функциональных элементов, имеющих не более двух входов. Установлена возможность реализации любой булевой функции от $n$ переменных схемой, допускающей при константных неисправностях единичные проверяющие тесты линейной по $n$ длины. Ил. 18, библиогр. 6.