О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем

Рассматривается задача синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов в базисе $\{\mathbin{\&},\vee,\neg\}$, реализующих булевы функции от $n$ переменных и допускающих короткие единичные диагностические тесты относительно однотипных константных неисправностей на выходах элементов. Для каждой булевой функции, допускающей реализацию неизбыточной схемой, найдено минимально возможное значение длины такого теста. В частности, доказано, что оно не превосходит двух. Ил. 3, библиогр. 27.