RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Дискретный анализ и исследование операций // Архив

Дискретн. анализ и исслед. опер., сер. 1, 2004, том 11, выпуск 1, страницы 3–12 (Mi da94)

О надежности схем в базисах $\{\nrightarrow,\rightarrow\}$, $\{\rightarrow,\oplus\}$ при неисправностях типа 0 на выходах элементов

М. А. Алехина

Пензенский государственный университет

Аннотация: В каждом из базисов $B_1=\{\nrightarrow,\rightarrow\}$, $B_2=\{\rightarrow,\oplus\}$ при неисправностях типа 0 на выходах элементов найден класс булевых функций $K_i$ $(i=1,2)$ такой, что ненадежность схемы, реализующей функции из $K_i$, будет асимптотически не меньше $2\gamma$ ($\gamma$ – вероятность неисправности одного элемента) при $\gamma\to 0$. Тем самым доказано, что полученные ранее верхние оценки ненадежности схем оказались достаточно точны, а именно, они асимптотически равны нижним оценкам ненадежности схем, реализующих булевы функции из классов $K_i$ $(i=1,2)$. Для этих классов асимптотически наилучшие по надежности схемы функционируют с ненадежностью $2\gamma$ при $\gamma\to 0$.

УДК: 519.718

Статья поступила: 04.12.2003



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024