ФИЗИКА

Макроскопические дефекты в тонких металлических пленках

Г. А. Куров, Э. А. Жильков, В. М. Дубодел, Б. А. Торопцев, В. Н. Целибеева

Московский институт электронной техники

УДК: 536.421

Статья представлена к публикации: И. М. Лифшиц
Поступило: 08.04.1974