КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Уточнение кристаллической структуры диоптаза $\mathrm{Cu}_6[\mathrm{Si}_6\mathrm{O}_{18}]\cdot6\mathrm{H}_2\mathrm{O}$ методами рентгеновской и нейтронной дифракции

Н. В. Белов, Б. А. Максимов, Ю. З. Нозик, Л. А. Мурадян

Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова АН СССР, г. Москва

УДК: 548.736.6

Поступило: 26.12.1977