О надежности схем в базисах $\{\sim,\&,\oplus\}$, $\{\sim,\&,0\}$, $\{\oplus,\&,1\}$, $\{\oplus,\vee,1\}$ при неисправностях типа 0 на выходах элементов

Показано, что при неисправностях типа 0 на выходах элементов почти все булевы функции можно реализовать асимптотически наилучшими по надежности схемами, функционирующими с ненадежностью, асимптотически равной вероятности $\gamma$ неисправности элемента в базисах $\{\sim,\&,\oplus\}$, $\{\sim,\&,0\}$, $\{\oplus,\&,1\}$, $\{\oplus,\vee,1\}$ при $\gamma\to0$.