Схемы для дизъюнкции, допускающие короткие единичные диагностические тесты

В работе исследуются тесты для схем, реализующих дизъюнкцию. В схеме допускается инверсная неисправность на выходе ровно одного из функциональных элементов. Для любого функционально полного базиса $B$ установлено, что при любом $n\ge3$ дизъюнкцию $n$ переменных можно реализовать схемой над $B$, допускающей единичный диагностический тест не более чем из двух наборов. Доказано, что в общем случае этот результат неулучшаем.
Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, проект 08–01–00863, и программы фундаментальных исследований РАН “Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики и информационные системы нового поколения”.