К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Дискрет. матем., 2017, том 29, выпуск 2,страницы 53

Эта публикация цитируется в 10 статьях

Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов

К. А. Попков

ИПМ им. М.В.Келдыша РАН

Аннотация: Получены нетривиальные нижние оценки длин минимальных единичных проверяющих и диагностических тестов для схем из функциональных элементов в широких классах базисов при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, константная неисправность, единичный проверяющий тест, единичный диагностический тест.

УДК: 519.718.7

Статья поступила: 16.09.2016

DOI: 10.4213/dm1429