RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Дискретная математика // Архив

Дискрет. матем., 2021, том 33, выпуск 1, страницы 20–30 (Mi dm1629)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

О единичных диагностических тестах относительно инверсных неисправностей элементов в схемах над произвольными базисами

И. Г. Любич, Д. С. Романов

МГУ имени М. В. Ломоносова

Аннотация: Доказано, что любую булеву функцию можно реализовать неизбыточной схемой из функциональных элементов над произвольным конечным полным базисом, допускающей единичный диагностический тест длины не более 4 относительно инверсных неисправностей на выходах элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, единичный диагностический тест, инверсная неисправность на выходе элемента, функция Шеннона, легкотестируемая схема.

УДК: 519.718.7

Статья поступила: 21.01.2021

DOI: 10.4213/dm1629


 Англоязычная версия: Discrete Mathematics and Applications, 2022, 32:1, 1–9

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024