RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Дискретная математика // Архив

Дискрет. матем., 2022, том 34, выпуск 2, страницы 67–82 (Mi dm1702)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Короткие полные диагностические тесты для схем с двумя дополнительными входами в одном базисе

К. А. Попков

ИПМ им. М.В. Келдыша РАН

Аннотация: Доказано, что любую булеву функцию от $n$ переменных можно смоделировать тестопригодной схемой из функциональных элементов с двумя дополнительными входами в базисе «конъюнкция, косая конъюнкция, дизъюнкция, отрицание», допускающей полный диагностический тест длины не более $2n+3$ относительно константных неисправностей типа $1$ на выходах элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, константная неисправность, полный диагностический тест, булева функция.

УДК: 519.718.7

Статья поступила: 28.02.2022

DOI: 10.4213/dm1702


 Англоязычная версия: Discrete Mathematics and Applications, 2023, 33:4, 219–230


© МИАН, 2024