RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Дискретная математика // Архив

Дискрет. матем., 2023, том 35, выпуск 4, страницы 69–78 (Mi dm1790)

Короткие тесты для контактных схем при однотипных слабо связных неисправностях контактов

К. А. Попков

ИПМ им. М. В. Келдыша РАН

Аннотация: Доказано, что для любого натурального $k$ любую булеву функцию можно реализовать двухполюсной контактной схемой, $k$-неизбыточной и допускающей $k$-диагностический тест длины не более $1$ относительно однотипных связных неисправностей контактов в группах, где каждая группа состоит из одного замыкающего и одного размыкающего контакта.

Ключевые слова: контактная схема, связные неисправности контактов, проверяющий тест, диагностический тест, булева функция.

УДК: 519.718.7

Статья поступила: 20.08.2023

DOI: 10.4213/dm1790



© МИАН, 2024