Короткие проверяющие тесты размыкания для контактных схем с дополнительным полюсом

Рассматривается задача синтеза трехполюсных контактных схем с полюсами $A$, $B$ и $V$, реализующих заданные булевы функции между полюсами $A$ и $B$ и допускающих короткие проверяющие тесты относительно размыканий контактов. Для каждой булевой функции от $n$ переменных и каждого тестового полюсного множества, содержащего хотя бы одну из пар $\{A,V\},\{B,V\}$, найдены минимально возможные значения длин единичного и полного проверяющего тестов. В частности, доказано, что они не превосходят $3$.