Синтез легкотестируемых схем в базисе $\{\&,\vee,\bar{\vphantom{x}}\,\}$ при однотипных константных неисправностях на выходах элементов

Предложен метод синтеза легкотестируемых схем из функциональных элементов в базисе $\{\&,\vee,\bar{\vphantom{x}}\,\}$, реализующих булевы функции, в дизъюнктивной нормальной форме которых не более $h$ переменных присутствуют как с отрицанием, так и без отрицания. Допускаются константные неисправности типа 1 на выходах элементов. Доказано, что для таких схем полный проверяющий тест имеет длину, не большую $h$.
Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, проект 02–01–00985; программой Президента Российской Федерации поддержки ведущих научных школ, грант НШ-1807.2003.1; программой “Университеты России”; программой фундаментальных исследований Отделения математических наук “Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики”.