О схемах, допускающих короткие единичные диагностические тесты

Исследуется возможность построения легкотестируемых схем из функциональных элементов в базисе $\{\&,\vee, ^-\}$ при однотипных константных неисправностях на входах и на выходах элементов. Конструктивно устанавливается, что любую булеву функцию от $n$ переменных можно реализовать схемой, допускающей единичный диагностический тест, длина которого по порядку не превосходит $\sqrt{2^n}$.