Экранирование кристаллического рельефа

Исследовано экранирование кристаллического потенциального рельефа, обусловленное взаимодействием дислокации со случайно расположенными в объеме точечными дефектами. Показано, что эффективное напряжение Пайерлса экспоненциально быстро уменьшается с ростом концентрации дефектов.