Аннотация:
Обнаружены и исследованы взаимосвязанные эффекты гашения и регенерации фотопроводимости, persistent проводимости, ОПЯ и ЭПР центров Fe$^{0}$ в кремнии $n$-типа, легированном железом, которые обусловлены долговременными процессами туннелирования донорного центра железа между позициями off-центра и узлом решетки при перезарядке. Результаты исследования объясняются в рамках модели глубокого центра с локальной отрицательной корреляционной энергией. Определена роль эффекта Штарка в динамике туннелирования глубоких центров, которая управляет процессами рекомбинации в полупроводниках.