Спектроскопия истинно-вторичных электронов с угловым разрешением для вольфрама с пониженной работой выхода

С применением нового метода выделения тонкой структуры (ТС) спектров медленных вторичных электронов с угловым разрешением (СМВЭУР) изучены СМВЭУР для систем W (110)$-$Cs, W (110)$-$О$-$Cs. Показано, что ТС СМВЭУР при покрытиях Cs вплоть до оптимального по работе выхода определяется зонной структурой подложки. Наличие моноатомного слоя О ослабляет влияние Cs на проявление зонной структуры W в СМВЭУР. При покрытиях Cs, больших оптимального ТС, СМВЭУР определяется другими механизмами.