Волновые пакеты и изображения микродефектов в двухкристальной рентгеновской топографии

Теоретически и экспериментально исследованы изображения микродефектов в двухкристальной плосковолновой рентгеновской топографии. Сопоставлены изображения крупных микродефектов несвирловой природы в кремнии, полученные при различных положениях рабочей точки на обоих склонах кривой качания. Выяснена роль волновых пакетов, освещающих исследуемый кристалл в двухкристальной схеме. Объяснены особенности изображений, связанные с дифракцией этих волновых пакетов. Проведено ЭВМ моделирование изображений. Хорошее согласие экспериментальных и расчетных изображений достигается только при учете конечных размеров волновых пакетов.