Аннотация:
Исследованы электрофизические свойства пленок $p$-Bi$_{2}$Te$_{3}$, полученных методом горячей стенки на подложках из слюды и BaF$_{2}$. Показано, что нестандартное поведение электропроводности при изменении температуры в поликристаллических слоях обусловлено образованием потенциальных барьеров у границ кристаллитов, которые существенно понижают подвижность дырок.